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從使用壽命分析大(dà)電流彈片微針模組與探針模組離玩的優劣2

來源：飛時(shí)通(tōng)

發布時(shí)間：2021-10-18

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從這幾個方面分析微針模組和探針模組或許可以得(de)出兩者之間使用壽命的差異及性能飛雪的優劣。

1. 測試環境：

測試針的使用壽命通(tōng)常跟測試環境有很大上年(dà)關系，如(rú)果測試時(shí)環境太信視差，探針模組的針管就會(huì)有雜質進入，對彈簧造成損壞，而無法章窗連接，這樣就必須要對探針進行更換和維護。

微針模組的頭型有自清潔能力，無需人力維護，在複雜的測試環境下也能保謝妹持長(cháng)期的穩定性，因此無需經常更換，使你討用壽命更長(cháng)。

2. 結構：

探針模組的外形結構是由針頭、針管、針尾制成的，内置彈簧，組件多，結構複雜，鐘愛表面覆蓋的鍍金(jīn)厚度很難控制。測試中可能會自風(huì)出現卡pin、斷針的情況。

微針模組是一體成型的彈片結構，采用鎳合金(jīn)/铍銅材料，後期加硬鍍河南金(jīn)處理，通(tōng)過激光設備采用特殊工(gōng)藝制成制歌。彈片堅韌不(bù)易折斷，還能按照客戶的要求定制。現笑

3. 應對方法

無法滿足測試需求或是使用不(bù)恰當也會(huì)影響測試模組的壽命關妹，拿(ná)探針模組來說(shuō)，在使用時(刀開shí)對探針頭部的下壓力度、深度不(bù)恰當的話，極易損書劇耗探針的彈簧。電流傳輸時(shí)，探針模組能通(tōng)過的額定電流為(紙在wèi)1A，無法通(tōng)過大(dà)電流測試，若是加大(d懂樹à)探針尺寸來達到相應的電流，就會(huì)出現卡pin、斷針的現象動土，影響探針使用壽命，還會(huì)拖慢測試進度。

微針模組在大(dà)電流測試中能通(tōng)過高達50A北生的電流，在同一材料體内電流傳輸穩定，連接功能強，無不(bù)良反應的生。彈片後期經過加硬鍍金(jīn)的處理，有利于增強導電性能，提高雪外使用壽命。另外，微針模組還有不(bù)同的頭型分别應對BTB連接器(qì)校術公母座測試，使連接更穩定。

從以上幾個方面的分析對比來看，凱智通(tōng)大(音技dà)電流彈片微針模組不(bù)隻在使用壽命方面比探針模組高舞黑出整整四倍，在測試環境、性能、連接的穩定性和大(dà)電流傳輸等方面也遠遠超過日男探針模組！在3C锂電池、手機LCD、OLED屏幕、攝像頭、可穿戴智能設備等電上地子(zǐ)産品的測試中具備更好(hǎo)的條件，且很紙成本不(bù)高，非常值得(de)選擇。






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