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從使用壽命分析大(dà)電流彈片微針模組與探多畫針模組的優劣

來源：飛時(shí)通(tōng)

發布時(shí)間：2021-08-18

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大(dà)電流彈片微針模組，與傳統的探針模組一樣都是應用于電子(zǐ)測試中測試PCBA的一種測試連接吧木電子(zǐ)元件。在測試治具中，微針模組和探針模組作為(wèi)一種媒介做場，能起到導通(tōng)電流和傳送信号的作用，多用于3錯舊C锂電池、手機LCD、OLED屏幕、攝像頭、可穿戴智能設備答機等電子(zǐ)産品的測試中。

作為(wèi)電子(zǐ)産品測試的橋梁，微針模組和探針模組的使用壽命是至關重要的，這關乎着産品的測票話試效率和測試進度，以及企業對生産成本的調度。經過測試，大(dà)電流彈片微對得針模組的平均使用壽命在20w次以上，但是在操作、環境師時以及保養都非常好(hǎo)的情況下能達到50w次。而傳統的探針模組的使線友用壽命在5w次左右。影響測試模組使用壽命的相關因房見素包含了測試環境、結構和應對方法。


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