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探針是IC測試治具中非常重要的一個部分，那麼IC測試治具中的探針主要起到了什麼作用呢？
IC測試治具的測試針是用于測試PCBA的一種探針。表面鍍金(jīn)，内部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。材質主要有W、ReW、CU、A+等幾種類型。W，ReW彈性一般，容易偏移，粘金(jīn)屑，需要多次的清洗，磨損損針長(cháng)離你，壽命一般。而A+材質的免清針，這種材質彈性較好(hǎo)，測試中不(bù)容易偏移，并信睡且不(bù)粘金(jīn)屑，免清洗，因此壽命見舞較長(cháng)。
IC測試治具的探針主要用于PCB闆測試，主要可分為(wèi)彈簧針(專用針)和通(tōng)用針。

彈簧針在使用時(shí)，需要根據IC測試治具所測試的PCB闆的布線情況制作測試模具，且一般情況下，一個模具隻能測相答試一種PCB闆；通(tōng)用針在使用時(shí)，隻需有足夠的點數即可，故現在很多廠機多家(jiā)都在使用通(tōng)用針；彈簧針根據使用情況又分為(wè地靜i)PCB闆探針、ICT探針、BGA探針，PCB闆探針主要用于PCB闆測試，ICT探針主要用于插件後的在線測試，BGA探針主要用于BGA封裝的芯片測試。

IC測試探針的選擇起着至關重要的一部，飛時(shí)通(tōn要學g)生産、研發的IC測試治具，探針均選用日本進口探針。保證客戶測試性弟老能穩定的同時(shí)，壽命也更加長(cháng)。